معرفی دستگاه اسپکترولیزر و کاربردهای آن در آنالیز مواد
| دسته | شیمی و آنالیز دستگاهی |
|---|---|
| گروه | سازمان زمین شناسی و اکتشافات معدنی کشور |
| مکان برگزاری | بیست و نهمین گردهمایی علوم زمین |
| تاريخ برگزاری | ۲۷ بهمن ۱۳۸۹ |
در این مقاله اصول تئورى طیف سنجی حاصل از تحریک لیزری
معرفی دستگاه اسپکترولیزر و کاربردهای آن در آنالیز مواد
مینو کریمی ، فوق لیسانس تکنولوژی هسته ای ، رییس گروه تجزیه فلزات گرانبها سازمان زمین شناسی کشور mkarimigsi@yahoo.com
نیره امیری ، دانشجوی دکترای شیمی تجزیه ، کارشناس XRF سازمان زمین شناسی کشور
چکیده :
در این مقاله اصول تئوری طیف سنجی حاصل از تحریک لیزری (Induced Breakdown Spectroscopy) توضیح داده شده است. دستگاه اسپکترولیزر 4000 ،ساخت کمپانی استرالیایی XRF Scientific Company بررسی شده و طیف های مرجع برای 50 عنصر در محدوده 950-185 نانومتر تهیه گردید. روش آنالیز کیفی نمونه های جامد تدوین و همچنین روش آنالیز نقطه ای ذرات بسیار ریز شرح داده شد. بکارگیری اسپکترولیزر برای تشخیص عناصر، مواد، نوع سنگ و نیز شمارش تعداد اتمها در داخل ملکول بیان گردید.
کلید واژه ها: لیزر – اسپکترولیزر – طیف – آنالیز – پلاسما - طیف سنجی