بخش XRF

بخش XRF

طیف‌نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس (X-ray fluorescence spectroscopy) یکی از رایج ترین دستگاه های آنالیز عنصری است که به دلیل غیر تخریبی بودن و سرعت نسبتا بالای برای آنالیز های کیفی و نیمه کمی از اهمیت زیادی برخوردار است. برای این منظور اشعه ایکس به نمونه تابیده  وباعث برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه‌های مختلفِ اتم می گردد. در اثر این پدیده، اشعه ایکس ثانویه، تولید می‌شود که با تعیین طول موج (انرژی) اشعه ایکس ثانویه که مشخصه اتم است؛ می‌توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد. همچنین شدت نشر اشعه ایکس متناسب با غلظت گونه بوده و برای آنالیز کمی مورد استفاده قرار می گیرد.

آماده سازی نمونه در این روش بسیار ساده است و آنالیز با روش XRF منجر به تخریب نمونه نمی شود. هرچند این روش برای اندازه گیری مقدیر کم (Trace) مناسب نیست، ولی قادر به شناسایی و اندازه گیری بسیاری از اتم ها (سدیم تا اورانیم) است.

نکات استفاده از دستگاه XRF

  • مقدار نمونه به طور معمول باید بیشتر از یک گرم باشد.
  • نمونه باید ترجیحاً به صورت پودری و به صورت همگن باشد.
  • برای موادی با ترکیبات مشابه، استاندارد ها به خوبی مشخص شده و در دسترس می باشد.
  • دقت اندازه گیری با دستگاه XRF برای عناصر سنگین تر بیشتر است.
  • برای موادی که حاوی مقادیر بالای عنصر می باشند هم تأثیرات جذب و هم فلورسانس به خوبی قابل تشخیص می باشد.
آخرین ویرایش۲۰ آذر ۱۳۹۷
تعداد بازدید:۵۷۸